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F40薄膜厚度测量仪
Filmetrics-F40薄膜厚度测量仪-膜厚仪 结合显微镜的薄膜测量系统Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系统
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F54 薄膜厚度测量仪
F54薄膜厚度测量仪自动化薄膜测绘 Filmetrics F54 系列的产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达
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F32 薄膜厚度测量仪
F32薄膜厚度测量仪在线测量的解决方案使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。从对膜的顶部和底部反射光谱进行分析可得到实时厚度信息。F32先进的光谱分析系统采用半宽的3U rack-mount底盘
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F20 薄膜厚度测量仪
Filmetrics F20 薄膜厚度测量仪测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数,还是想要知道材料的反射率和透过率,F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟
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F10-RT 薄膜厚度测量仪
F10-RT薄膜厚度测量仪同时测量反射和透射以真空镀膜为设计目标,F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分,用户就能进行低/高分析、确定 FWHM 并进行颜色分析
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F10-HC 薄膜厚度测量仪
以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统,能够快速的分析薄膜的反射光谱资料并提供测量厚度,加上F10-HC软件特有的先进模拟演算法的设计,能够在厚膜中测量单层与多层(例如:底漆或硬涂层等)。
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F10-AR 薄膜厚度测量仪
F10-AR薄膜厚度测量仪易于使用而且经济有效地分析减反涂层和镜头上的硬涂层F10-AR 是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的仪器。虽然价格大大低于当今绝大多数同类仪器,应用几项技术
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F60-t 薄膜厚度测量仪
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Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪
F3-sX 系列薄膜厚度测量仪满足薄膜厚度范围从15nm到3mm的先进厚度测试系统 F3-sX家族利用光谱反射原理,可以测试众多半导体及电解层的厚度,可测大厚度达3毫米。此类厚膜,相较于较
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F54-XY-200薄膜厚度测量仪
F54-XY-200 薄膜厚度测量仪自动薄膜厚度测绘系统借助F54-XY-200先进的光谱反射系统,可以快速轻松地测量大200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提
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